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測(cè)試測(cè)量

一種實(shí)時(shí)M2因子分析儀

網(wǎng)絡(luò) 來(lái)源:廣東星之球2011-08-02 我要評(píng)論(0 )   

ModeScan 1780 實(shí)時(shí)M2因子分析儀是目前全球唯一一款實(shí)時(shí)M2檢測(cè)系統(tǒng),在單脈沖,脈沖激光和連續(xù)激光探測(cè)中,在固定的光譜范圍內(nèi),可以直接應(yīng)用M2分析軟件,獲得M2值,并...

       ModeScan 1780 實(shí)時(shí)M2因子分析儀是目前全球唯一一款實(shí)時(shí)M2檢測(cè)系統(tǒng),在單脈沖,脈沖激光和連續(xù)激光探測(cè)中,在固定的光譜范圍內(nèi),可以直接應(yīng)用M2分析軟件,獲得M2值,并且對(duì)于遠(yuǎn)場(chǎng)發(fā)散角,束腰位置等參數(shù)可以直接進(jìn)行測(cè)量,具有較高的靈敏度。

 


 

      適用光譜范圍:380-1100nm
      專業(yè)M2分析軟件,直接獲得M2值、遠(yuǎn)場(chǎng)發(fā)散角、束腰位置、對(duì)稱度等參數(shù)

      M2測(cè)量精度5%

      適用于單脈沖、脈沖激光和連續(xù)激光

技術(shù)參數(shù)

 

      ModeScan Model 1780 系列技術(shù)參數(shù)如下表所示:

ModeScan Model 1780 系列技術(shù)參數(shù)

光電探測(cè)器

傳感器

Si CCD 1/2" Format

波長(zhǎng)

360nm - 1100nm (Standard with OD 2.8 filter)
250nm - 1100nm with UV optics

像素陣列

780 (H) X 580 (V)

像素大小

8.3µm X 8.3µm

陣列尺寸

6.49mm X 4.83mm

掃描模式

逐行掃描

CCD光窗

移除

分束鏡

Fused Silica: <20/10 Scratch Dig, l/10 Flatness

測(cè)試透鏡

UV 250 - 460nm:

#p#分頁(yè)標(biāo)題#e#200mm fl Fused Silica/250-460nm AR coated standard

Visible 425 - 720nm:

200mm fl BK7/425-720nm AR coated standard

VIS-NIR 620 - 1080nm:

200mm fl BK7/620-1080nm AR coated standard
other fl's optional for all wavelengths

衰減系統(tǒng)

Visible - NIR:

OD 2.8 Absorbing Glass >360nm

UV:

OD 3.0 Fused Silica Inconel 250-450nm

 

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