長焦距、大口徑雜光系數(shù)測試設(shè)備主要用途是測試大口徑相機光學(xué)系統(tǒng)的雜光系數(shù)。設(shè)備主要由目標(biāo)模擬系統(tǒng)、載物調(diào)整系統(tǒng)、目標(biāo)探測系統(tǒng)、控制采集軟件以及控制柜五部分組成。該設(shè)備在繼承傳統(tǒng)面源法(俗稱黑斑法)測量雜散光的原理的基礎(chǔ)上，進行了創(chuàng)新性的改進：采用大口徑離軸拋物面鏡與積分球組合來實現(xiàn)出射光為2л立體角的無窮遠目標(biāo)的模擬，避免了大口徑透射式光學(xué)系統(tǒng)材料引入的雜光誤差;為了保證目標(biāo)模擬器中的黑斑與白斑的對比度達到1：1000的要求，將以往牛角塞結(jié)構(gòu)形式改成一種新型內(nèi)腔室光陷阱結(jié)構(gòu)，可實現(xiàn)高對比度的目標(biāo)模擬，最終測試目標(biāo)對比度達到1：2000;另外在弱光探測器標(biāo)定方面采用強光光源和兩個積分球組合分級的方法，解決了大動態(tài)范圍弱光探測器標(biāo)定的難題，實現(xiàn)了3000倍動態(tài)范圍線性度優(yōu)于2%的弱光探測器的標(biāo)定，最終設(shè)備雜散光測試重復(fù)誤差優(yōu)于0.3%。

　　現(xiàn)場驗收時，使用該設(shè)備測試某光學(xué)系統(tǒng)的雜散光，與西安光機所和長春光機所原有雜光測試設(shè)備測試數(shù)據(jù)比對，取得了滿意的效果。與會專家認(rèn)為長焦距、大口徑雜光系數(shù)測試設(shè)備所有技術(shù)指標(biāo)滿足《設(shè)備研制技術(shù)協(xié)議》的要求，一致同意通過驗收，可以正式投入使用。