長(zhǎng)焦距、大口徑雜光系數(shù)測(cè)試設(shè)備主要用途是測(cè)試大口徑相機(jī)光學(xué)系統(tǒng)的雜光系數(shù)。設(shè)備主要由目標(biāo)模擬系統(tǒng)、載物調(diào)整系統(tǒng)、目標(biāo)探測(cè)系統(tǒng)、控制 采集軟件以及控制柜五部分組成。該設(shè)備在繼承傳統(tǒng)面源法(俗稱黑斑法)測(cè)量雜散光的原理的基礎(chǔ)上，進(jìn)行了創(chuàng)新性的改進(jìn)：采用大口徑離軸拋物面鏡與積分球組 合來(lái)實(shí)現(xiàn)出射光為2л立體角的無(wú)窮遠(yuǎn)目標(biāo)的模擬，避免了大口徑透射式光學(xué)系統(tǒng)材料引入的雜光誤差;為了保證目標(biāo)模擬器中的黑斑與白斑的對(duì)比度達(dá)到 1：1000的要求，將以往牛角塞結(jié)構(gòu)形式改成一種新型內(nèi)腔室光陷阱結(jié)構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)高對(duì)比度的目標(biāo)模擬，最終測(cè)試目標(biāo)對(duì)比度達(dá)到1：2000;另外在弱光探 測(cè)器標(biāo)定方面采用強(qiáng)光光源和兩個(gè)積分球組合分級(jí)的方法，解決了大動(dòng)態(tài)范圍弱光探測(cè)器標(biāo)定的難題，實(shí)現(xiàn)了3000倍動(dòng)態(tài)范圍線性度優(yōu)于2%的弱光探測(cè)器的標(biāo) 定，最終設(shè)備雜散光測(cè)試重復(fù)誤差優(yōu)于0.3%。