90納米光刻機通過驗收測試
中國半導體行業(yè)協(xié)會副理事長、中科院微電子所所長葉甜春25日在IC China高峰論壇上表示,發(fā)展裝備是為了壯大本土供應鏈支撐半導體制造行業(yè)的發(fā)展,國內(nèi)裝備在薄膜、濺鍍、刻蝕工藝領域都已經(jīng)取得突破進展,但目前最前端的光刻機仍是最困難的一個環(huán)節(jié)。
他指出,中國首套光刻機曝光系統(tǒng)研發(fā),可以說是目前是全世界難度最高的超精度技術,尤其在超精密光學領域, 需要關鍵技術自主研發(fā)。而當前中國已經(jīng)在此領域取得初步的突破。
據(jù)悉,長春光學精密機械與物理研究所、應用光學國家重點實驗室負責物鏡系統(tǒng);照明系統(tǒng)由中國科學院上海光學精密機械研究所,兩個團隊所共同負責的國產(chǎn)光刻機已于2017年7月首次曝光成功,2017年10月曝光光學系統(tǒng)在整機環(huán)境下已通過驗收測試。
長春國科精密光學技術有限公司、科技部原副部長、02專項光刻機工程指揮部組長曹健林在分享專項進展時表示,目前90納米檢測已經(jīng)達到要求,希望未來五年內(nèi)應可順利驗收完成。
2007年正式啟動90納米節(jié)點曝光光學系統(tǒng)立項,2009年項目獲批,國產(chǎn)光刻機物鏡系統(tǒng)由長春光學精密機械與物理研究所、應用光學國家重點實驗室負責;照明系統(tǒng)由中國科學院上海光學精密機械研究所,兩個團隊所共同負責,專項一期項目投入近6億元。專項目標是建立物鏡超精密光學研發(fā)團隊與平臺,并實現(xiàn)產(chǎn)業(yè)化滿足IC生產(chǎn)線的批量生產(chǎn)要求。
曹健林稱,光刻機的研發(fā)過程嚴格按照里程碑節(jié)點進行控制與設計,并建立綜合設計、加工、鍍膜、裝配、測試、裝調全工藝過程的像質預測模型。2015年7月已經(jīng)完成裝配,其后展開物鏡測試臺的精度提升工作;2016年9月物鏡系統(tǒng)已經(jīng)交付,整個大硅片都已經(jīng)進行分布式測量;2017年7月首次曝光成功;2017年10月曝光光學系統(tǒng)在整機環(huán)境下通過驗收測試。
攻克“皇冠上明珠”朝28納米邁進
曹健林進一步說,應該說國內(nèi)半導體行業(yè)的關鍵材料與裝備才剛剛起步,希望未來光刻機自主研發(fā)能攻克難關拿下這顆 “工業(yè)皇冠上的明珠”。他稱,接下來項目還將繼續(xù)推進攻克28納米研發(fā),規(guī)劃兩年后拿出工程樣品,目前EUV的原理系統(tǒng)也已經(jīng)“走通了”,預計明年主攻EUV 53波長機臺。
清華大學微電子研究所所長魏少軍則也分析表示,過去十年,中國保持比國際同行更高的發(fā)展速度,而且穩(wěn)步提升發(fā)展質量,這才是關鍵。
隨著02專項的支持,國內(nèi)重大裝備于2016年國產(chǎn)裝備銷售已達32億元人民幣。 他也提個醒,盡管不可否認中國半導體行業(yè)的快速發(fā)展取得矚目,但在肯定自身進步的同時,也要看見自己仍存在的差距。他舉例,以當前集成電路每年約進口兩千億元來細看,其中主要以微處理器、存儲器就約占了1500億,這兩個部分也恰恰是中國目前自身還做不到的。
隨著02專項的支持,有些重大裝備已經(jīng)取得突破。但他指出當前面對中國集成電路發(fā)展,應該“正確理解中國集成電路產(chǎn)業(yè)存在差距”。
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