日亞公司和日本京都大學(xué)報告稱,已將光子晶體面發(fā)射激光器(PCSEL)的功能擴展到可見光譜綠光波段 [Natsuo Taguchi et al, Appl. Phys. Express, v17, p012002, 2024]。
據(jù)研究人員描述,與藍光PCSEL或綠光邊發(fā)射激光二極管和垂直腔面發(fā)射激光二極管相比,綠光PCSEL的發(fā)展目前還處于“原始水平”。不過,研究團隊希望這類器件能對材料加工、高亮度照明、顯示等應(yīng)用產(chǎn)生吸引力。
光子晶體(PC)使用折射率不同的材料的二維晶格結(jié)構(gòu)來控制光學(xué)行為。研究人員對PCSEL有一個特別期待,即利用這種控制,使得輸出功率更高時更易實現(xiàn)單模行為,從而提高光束質(zhì)量。
研究人員評論道:“通過利用光子晶體的奇點(如Γ),PCSEL實現(xiàn)了垂直和橫向單模振蕩以及角度小于0.2°的低發(fā)散輻射光束。”PCSEL還能將光功率分散到較大諧振器體積上,從而避免強光密度造成的災(zāi)難性光損傷(COD)。
光子晶體是在PCSEL外延材料的p-GaN接觸層中形成的,使用的填充材料是二氧化硅(SiO2),而不是以往研究中較為常見的空氣(圖1)。生長有源層后再創(chuàng)造光子晶體,就可以根據(jù)外延結(jié)構(gòu)有源層的測得增益波長調(diào)整光子晶體的晶格常數(shù)(a)。
圖1:基于GaN的綠光波長PCSEL的結(jié)構(gòu):(a)切割芯片的橫截面;(b)(上)去除ITO電極后,p-GaN表面光子晶體的掃描電子顯微鏡(SEM)圖像;(下)雙晶格光子晶體設(shè)計方案。
用SiO2填充晶格可避免漏電流穿過晶格孔側(cè)壁的導(dǎo)電粒子,從而使電流控制更加穩(wěn)定,并減少寄生漏電流。SiO2還能提高光子晶體層的有效折射率,使導(dǎo)模向光子晶體移動,增強與光場的耦合。
使用SiO2存在一個缺點,即降低了光子晶體與GaN的折射率對比度,使光子晶體平面內(nèi)的光波更難控制。為了彌補這一缺陷,研究人員增大了晶格孔的直徑,并采用了雙晶格結(jié)構(gòu),一個單元格由兩個在x和y方向上偏移0.4a的晶格孔組成。研究人員表示,這樣做是為了“即使填充光子晶體的p-GaN和SiO2間折射率對比度較低,也能獲得足夠的面內(nèi)約束和耦合”。
光子晶體的形成過程包括在III族氮化物外延材料上沉積氧化銦錫(ITO)透明導(dǎo)體,然后用電感耦合等離子體反應(yīng)離子蝕刻(ICP-RIE)鉆出光子晶體的晶格孔,再利用等離子體化學(xué)氣相沉積(CVD)填充SiO2。ITO材料已從結(jié)構(gòu)中去除,只留下一個直徑為300μm的圓形中心區(qū)域作為p-電極和p-GaN之間的導(dǎo)管。
研究人員報告稱,根據(jù)掃描電子顯微鏡成像,光子晶體中的SiO2填充柱體中心含有一個小氣孔。研究團隊評論道:“氣孔形狀在光子晶體平面內(nèi)是均勻的,因此認(rèn)為氣孔的存在不會對PCSEL的性能產(chǎn)生重大影響?!?/p>
完成該器件的制作過程前,需要對n-GaN層進行臺面蝕刻,再沉積SiO2覆蓋臺面(中部ITO區(qū)域除外);在頂部和底部表面分別沉積p-電極和n-電極;并在底部圓形激光輸出區(qū)域涂上抗反射(AR)涂層。然后,器件被切割并翻轉(zhuǎn)到子支架上進行性能測量。
在以1kHz重復(fù)頻率產(chǎn)生500ns脈沖的5A注入電流下,光子晶體晶格常數(shù)a為210nm的器件實現(xiàn)了約50mW的最大輸出功率。其電光轉(zhuǎn)換效率(WPE)為0.1%。電流密度為3.89kA/cm2時達到激光閾值。斜率效率為0.02W/A。輸出的激光為線性偏振光,偏振比為0.8。圓形遠場圖案(FFP)的發(fā)散角度為0.2°。激光波長為505.7nm。
光子晶體晶格參數(shù)a在210nm和217nm之間變化時,可以對激光波長進行一定程度的調(diào)節(jié)(圖2)。217nm器件的最大發(fā)射波長為520.5nm。有源層的增益峰值約為505nm,因此波長較長時更難產(chǎn)生激光,導(dǎo)致閾值隨光子晶體晶格常數(shù)的增大而增大。
圖2:具有不同光子晶體晶格常數(shù)的器件的激光光譜。
研究人員還報告稱,一些光子晶體晶格常數(shù)較高的器件發(fā)出帶線形遠場圖案的平帶激光。研究團隊將這類平帶激光歸因于光子晶體結(jié)構(gòu)的波動,以及光子晶體相對較低的耦合系數(shù)。
研究人員評論道:“通過優(yōu)化光子晶體層和外延晶體層,可以改善電光轉(zhuǎn)換效率。對光子晶體而言,通過優(yōu)化幾何結(jié)構(gòu),有望實現(xiàn)更強的面內(nèi)耦合和垂直輻射。設(shè)計外延晶體層時,應(yīng)最大限度提高光子晶體區(qū)域基礎(chǔ)導(dǎo)模的強度,同時還要考慮注入載流子的非發(fā)光損耗。”
未來研究的一個迫切需要是實現(xiàn)連續(xù)波運行。
以上內(nèi)容來自雅時化合物半導(dǎo)體
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