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測(cè)試測(cè)量

Multitest MEMS測(cè)試校準(zhǔn)設(shè)備現(xiàn)適用于MT9510水平拿放式測(cè)試分選機(jī)

激光制造網(wǎng)通訊員 來源:廣東星之球2012-01-17 我要評(píng)論(0 )   

2012年1月---面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,現(xiàn)已將首臺(tái)適于MT9510水平拿...

        2012年1月---面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,現(xiàn)已將首臺(tái)適于MT9510水平拿放式測(cè)試分選機(jī)的Multitest MEMS設(shè)備發(fā)送到美國的一家IDM。這種新型組合以兩種成熟平臺(tái)為基礎(chǔ):MT MEMS和MT9510。

        該裝置適合MEMS陀螺儀測(cè)試,并已成功安裝。它充分利用了我們長期積累的MEMS檢測(cè)專業(yè)知識(shí)以及對(duì)器件分選相關(guān)挑戰(zhàn)的全面了解。因此,MT9510業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的定位準(zhǔn)確度和三溫性能現(xiàn)也適用于MEMS測(cè)試。

      Multitest已收到封裝轉(zhuǎn)換套件及其他系統(tǒng)的追加訂單。

 

 

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