三，產(chǎn)品的幾個關(guān)鍵考驗點：

　　激光粒度儀有幾個關(guān)鍵考驗點

　　(1)激光器選擇：激光粒度儀的重要部件之一，主要有HE-NE激光器和半導體激光器兩種，其中HE-NE激光器的各項性能均優(yōu)于半導體激光器，且本錢也遠高于半導體激光器，半導體激光器單向性差的題目，對測試結(jié)果的穩(wěn)定性影響很大。因此推薦用戶選擇HE-NE激光器。

　　(2)光電探測器：國內(nèi)產(chǎn)品采用的光電探測器的種類大同小異，一般就是半環(huán)式、點陣式等，半環(huán)式的上風是能夠以較少的通道數(shù)達到很高的探測精度。而且在出現(xiàn)斷環(huán)時可以臨時采取并環(huán)操縱，對測試結(jié)果影響很小。點陣式屬于比較老的探測器類型，現(xiàn)在用的比較少。

　　(3)儀器結(jié)構(gòu)題目：主要分為整體式和分體式，整體式就是將分散系統(tǒng)和測試系統(tǒng)整合為一體，協(xié)同操縱，分體式則是分散系統(tǒng)獨立于測試系統(tǒng)，測試者需要先操縱分散系統(tǒng)，將樣品分散好再將分散好的樣品通過管道導進測試系統(tǒng)進行測試。這樣的缺點是協(xié)同操縱性不好，比較重的顆粒輕易在管道中沉淀，清洗不便且對測試結(jié)果有一定影響，現(xiàn)在整體式結(jié)構(gòu)的儀器是發(fā)展方向，進口產(chǎn)品大都采用整體式結(jié)構(gòu)，國內(nèi)的產(chǎn)品也慢慢在向整體式結(jié)構(gòu)發(fā)展。

　　(4)光路設(shè)計題目：光路設(shè)計是激光粒度儀研制的基礎(chǔ)，進口產(chǎn)品的上風不但在制造工藝上，光路的設(shè)計水平也是技術(shù)先進的標志，國內(nèi)的廠家現(xiàn)在大都采用簡單的平行光路設(shè)計，據(jù)了解濟南微納公司推出的產(chǎn)品中采用了匯聚光傅立葉變換光路。這種光路是一種比較先進的光路，能夠獲得更寬的散射角，在進步測試精度方面有一定的上風。

    四，需要了解的顆粒測試基礎(chǔ)知識

　　實際測試中，正確性是相對的，重復(fù)性是盡對的：在實際顆粒測試中，激光粒度儀測試的結(jié)果我們無法評價其“正確”或“不正確”，由于樣品都是不規(guī)則外形體，與其對比的測試結(jié)果也只是另外一種儀器測試所得，因此，我們只能說A儀器的測試結(jié)果相對于B儀器來說是正確的，而不能說A儀器測試結(jié)果就是正確或不正確，很多測試職員總是喜歡與馬爾文的來對比，只要符合就是正確，不符合就是不正確，這實在是個誤區(qū)。考量儀器好壞的標準實在是重復(fù)性，對某一種樣品分別取樣測試，假如前一次和后一次測試結(jié)果差異小那說明儀器是穩(wěn)定的，重復(fù)性好的，假如差異大那就說明這個儀器的測試效果不好。

　　五，實地測試

　　最好在選擇前寄送樣品實地測試，由于樣品的屬性千差萬別，有的儀器并非全能，對某些樣品可能偏差比較大。