PI獨特的并行梯度搜索技術(shù)

該算法以對準(zhǔn)系統(tǒng)微米級甚至納米級的探索性運動為基礎(chǔ)，可測量品質(zhì)因數(shù)的局部梯度，例如相機鏡頭系統(tǒng)的圖像質(zhì)量或激光器的輸出功率。然后自動遵循該梯度，直至達到所需的元件位置和方向。該程序提供出色的跟蹤功能，因此可以補償任何漂移效應(yīng)。PI獨特的方法可以使多個梯度搜索程序并行進行。這意味著可以同步進行多個元件、自由度、通道等的優(yōu)化。這一開創(chuàng)性功能可以將整體優(yōu)化時間縮短兩個或更多個數(shù)量級。

梯度搜索可以在不到1秒的時間內(nèi)找到信號最大值。

同時調(diào)整多個單一元件

在復(fù)雜的光學(xué)系統(tǒng)中對準(zhǔn)單個透鏡元件是一項具有挑戰(zhàn)性且耗時的任務(wù)。然而，借助于PI獨特的內(nèi)置于控制器固件中的算法以及同樣獨特的機械調(diào)整單元，可在單一操作中并行對準(zhǔn)多個透鏡。

PI –自動多通道光纖陣列對準(zhǔn)

將光纖（單?；蚨嗄９饫w）連接到硅光子器件(SiP)仍然是這些器件的測試與封裝中具挑戰(zhàn)性和復(fù)雜性的任務(wù)之一。

基于其獨特的“快速多通道光子學(xué)對準(zhǔn)”系統(tǒng)，PI成功開發(fā)了一種用于晶圓探測的高吞吐量自動化子系統(tǒng)。該視頻現(xiàn)在展示了實現(xiàn)芯片級測試和封裝自動化的方法。

SiP生產(chǎn)快速光學(xué)校準(zhǔn)

PI快速硅光對準(zhǔn)FMPA技術(shù)可用于大多數(shù)的工序優(yōu)化

· 激光腔調(diào)節(jié)

· 攝像頭組裝

· 無人駕駛的激光傳感器

· 光纜

· 硅光子 (SiP)

-芯片檢測

-芯片封裝

· 量子計算