背景 長(zhǎng)期以來(lái),人類慧眼和顯微鏡是寶石學(xué)實(shí)驗(yàn)室的唯二工具。然而,技術(shù)進(jìn)步催生了各種各樣經(jīng)人工處理的天然寶石,以及肉眼和顯微鏡無(wú)法區(qū)分的合成寶石。因此,現(xiàn)在的寶石學(xué)實(shí)驗(yàn)室需要配備可與高校研究中心相媲美的儀器和技能。 在眾多現(xiàn)有分析技術(shù)中,拉曼與光致發(fā)光光譜已成為鑒定和表征寶石的理想技術(shù)。 挑戰(zhàn) 如何選擇鑒定和表征寶石的理想工具? 如何快速準(zhǔn)確識(shí)別真假鉆石? 寶石內(nèi)部微小包裹體想一探究竟,卻沒(méi)有頭緒? 莫慌~試試雷尼紹的inVia?共焦顯微拉曼光譜儀——您的理想之選。 解決方案 inVia共焦顯微拉曼光譜儀是鑒定和表征寶石的理想工具。 它可以輕松執(zhí)行拉曼光譜和光致發(fā)光光譜分析。 您可以清楚無(wú)誤地實(shí)現(xiàn): 快速識(shí)別和鑒定寶石 分析包裹體,以確定地質(zhì)成因和產(chǎn)地 識(shí)別鉆石處理方法,包括用以提升品質(zhì)或形成絢麗色彩的輻照和高壓高溫 (HPHT) 退火處理。inVia還可以確定哪個(gè)位置采用了多種處理方法 識(shí)別彩色寶石的處理方法,例如: -通過(guò)分析包裹體識(shí)別熱處理方法(通常用于紅寶石和藍(lán)寶石) -基于結(jié)構(gòu)修飾識(shí)別熱處理方法(例如用于尖晶石) -裂隙填充處理(例如用于綠寶石、電氣石和玻璃填充剛玉) -浸注處理(例如用于玉石、蛋白石和不透明的寶石) -輻照處理(例如用于珍珠) 區(qū)分天然寶石與合成寶石(鉆石、尖晶石、綠寶石) 鑒別贗品和仿制品 inVia顯微拉曼光譜儀還具備一個(gè)優(yōu)點(diǎn):它既可以分析裸石,也可以分析(珠寶和手表上)鑲嵌的寶石。它還是一款功能強(qiáng)大的研究?jī)x器,可用于進(jìn)行寶石學(xué)領(lǐng)域的科學(xué)研究。 示例分享 一 、天然鉆石還是合成鉆石,如何識(shí)別? 化學(xué)氣相沉積法 (CVD) 處理的IIa型合成鉆石 在珠寶行業(yè)中,區(qū)分天然鉆石與實(shí)驗(yàn)室合成鉆石至關(guān)重要。如果低溫PL光譜中出現(xiàn)硅相關(guān)晶格缺陷(Si色心)的譜帶,就可以輕松區(qū)分二者。硅通常是CVD工藝帶入的雜質(zhì),但在天然鉆石中并不常見(jiàn)。這些缺陷對(duì)應(yīng)于PL光譜中在736.6nm到736.9nm之間的雙峰。 此外,740.9nm和744.4nm處的譜帶與GR1特征有關(guān),但通常不會(huì)出現(xiàn)在CVD合成鉆石中。 圖1 — IIa型CVD實(shí)驗(yàn)室合成鉆石的光譜,顯示出736.6nm和736.9nm處的硅相關(guān)晶格缺陷,且缺少GR1譜帶(箭頭所示位置) 二、包裹體分析,一探究竟 inVia顯微拉曼光譜儀的EasyConfocal?技術(shù)能夠以高空間分辨率快速研究寶石內(nèi)的微小包裹體。 inVia支持透射、反射和暗場(chǎng)照明,提供多種選項(xiàng)來(lái)定位包裹體。圖2所示為粉色藍(lán)寶石(屬天然剛玉的一種)內(nèi)的一個(gè)包裹體。 雷尼紹的無(wú)機(jī)物和礦物光譜數(shù)據(jù)庫(kù)涵蓋1,000多種相關(guān)物質(zhì)的光譜,使用該數(shù)據(jù)庫(kù)可以輕松、快速識(shí)別包裹體。圖3展示了剛玉中一個(gè)包裹體的光譜。經(jīng)鑒定,該包裹體為尖晶石。 圖2 — 粉色藍(lán)寶石(屬天然剛玉的一種)內(nèi)的尖晶石包裹體 圖3 — 使用雷尼紹光譜數(shù)據(jù)庫(kù)搜索功能,鑒別該剛玉包裹體為尖晶石 總結(jié) inVia是一個(gè)全方位分析工具: 上述示例表明,在寶石學(xué)實(shí)驗(yàn)室的日常工作中,您可以使用inVia顯微拉曼光譜儀輕松鑒定寶石真?zhèn)?,并檢測(cè)其處理方法。 使用inVia,您可以盡享拉曼光譜技術(shù)的特有優(yōu)勢(shì),以及研究級(jí)顯微拉曼光譜儀的強(qiáng)大功能: 利用專用的寶石光譜數(shù)據(jù)庫(kù),準(zhǔn)確無(wú)誤地鑒別材質(zhì) 快速、無(wú)損分析 無(wú)需制備樣品即可直接檢測(cè) 以高空間分辨率和高靈敏度分析包裹體
轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。