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光學(xué)平臺(tái)

如何鑒別光學(xué)平臺(tái)質(zhì)量的優(yōu)劣

秩名 來源:廣東星之球2011-08-05 我要評(píng)論(0 )   

隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,各項(xiàng)科學(xué)實(shí)驗(yàn)的高、精、尖要求越來越高,各領(lǐng)域里的實(shí)驗(yàn)儀器精度不斷攀高,所以同時(shí)要求實(shí)驗(yàn)的環(huán)境越來越好。在傳統(tǒng)隔振基礎(chǔ)上面,不斷細(xì)化,如今...

       隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,各項(xiàng)科學(xué)實(shí)驗(yàn)的高、精、尖要求越來越高,各領(lǐng)域里的實(shí)驗(yàn)儀器精度不斷攀高,所以同時(shí)要求實(shí)驗(yàn)的環(huán)境越來越好。在傳統(tǒng)隔振基礎(chǔ)上面,不斷細(xì)化,如今變成了一個(gè)能夠針對(duì)各類實(shí)驗(yàn)的高精度的工作平臺(tái),它充當(dāng)起了一個(gè)各項(xiàng)實(shí)驗(yàn)的安靜的系統(tǒng)工程。可由于我國(guó)的振動(dòng)研究比較晚,大多數(shù)尖端儀器依賴進(jìn)口平臺(tái),所以目前我國(guó)秀多科研單位和大學(xué)實(shí)驗(yàn)室都使用進(jìn)口隔振產(chǎn)品。然而通本公司近幾年的技術(shù)創(chuàng)新和市場(chǎng)營(yíng)銷的努力,以優(yōu)異的性價(jià)比及優(yōu)秀的售后服務(wù)為切入口,逐步代替了進(jìn)口,甚至出口國(guó)際市場(chǎng),參與國(guó)際競(jìng)爭(zhēng)。

       光學(xué)平臺(tái)外觀:光學(xué)平臺(tái)外觀應(yīng)美觀,各部位都應(yīng)無影響安全的銳角及銳邊,更重要的是檢查孔口倒角是
否均勻一致(螺孔旋入后應(yīng)垂直平臺(tái)面),四邊及其倒角是否平直一致。如果臺(tái)面未經(jīng)過機(jī)械加工而是人工打磨
出來的孔口倒角是大小不一致的,沿臺(tái)面四周邊用目測(cè)即可看出臺(tái)面倒角處是彎曲的。

       光學(xué)平臺(tái)固有頻率(≤2Hz):固有頻率也稱自然頻率、自振頻率,只有在環(huán)境擾動(dòng)力頻率(f)與光學(xué)平
臺(tái)的固有頻率(fo)的比值f/fo>√2 時(shí)系統(tǒng)才有隔振作用。所以光學(xué)平臺(tái)的固有頻率越低,隔振效果效果就越好。
該指標(biāo)的檢測(cè)一般采用振動(dòng)頻譜分析儀及便攜式振動(dòng)分析儀來進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)量,如供應(yīng)商不具備儀器測(cè)量(當(dāng)然這
是很不正常的),您也可用以下方法:用手用力壓下(或側(cè)推)平臺(tái),然后迅速松開,讓其大幅度上下振動(dòng)(或
左右、前后擺動(dòng))起來,如一秒鐘內(nèi)往復(fù)一次即為1Hz,二次即為2Hz,依此類推。須可粗略測(cè)得光學(xué)平臺(tái)的固
有頻率。
      光學(xué)平臺(tái)平面度(≤0.05 ㎜/㎡):該指標(biāo)越小即表明臺(tái)面越平整,調(diào)整光路就越容易。一般出廠要求平面
度小于0.05 ㎜/㎡,檢測(cè)方法一般有:光電自準(zhǔn)直儀法、光學(xué)平面度檢查儀檢測(cè)法、水平儀檢測(cè)法、激光平面度
檢測(cè)儀等等。對(duì)安裝在實(shí)驗(yàn)室的光學(xué)平臺(tái)平面度一般采用光電直準(zhǔn)儀和光學(xué)平直度檢查儀檢測(cè),經(jīng)計(jì)算后得出。
這些儀器也是生產(chǎn)廠商應(yīng)必須配置的。

      光學(xué)平臺(tái)表面密迪紋理及粗糙度(Ra≤0.8μm):該指標(biāo)的意義在于保證光學(xué)平臺(tái)有一個(gè)光滑但無反射的
工作表面。良好的表面粗糙度有利對(duì)實(shí)驗(yàn)儀器的保護(hù),產(chǎn)品出廠要求一般在Ra≤0.8μm 以下,粗糙度完成可采
用對(duì)比樣板目測(cè)和粗糙度儀檢測(cè),如果是現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)可采用粗糙度儀完成。該儀器具有便攜、可直讀數(shù)據(jù)、精度高
等優(yōu)點(diǎn)。
      光學(xué)平臺(tái)重復(fù)定位精度(±0.10 ㎜):該指標(biāo)意義在于保證工作臺(tái)面在動(dòng)態(tài)條件下的水平,以方便使用者高
速光路,檢測(cè)方法是將百分表(精度0.02 ㎜)固定在穩(wěn)固的物體上,表頭頂住臺(tái)面,然后在工作臺(tái)面上反復(fù)加
載或卸載,待穩(wěn)定后讀數(shù)在范圍正負(fù)0.10 ㎜以內(nèi)即為合格。
      光學(xué)平臺(tái)工作臺(tái)面的振幅(So≤2μm):在正常的使用環(huán)境下,為了保證儀器的使用精度,光學(xué)平臺(tái)必須
提供盡可能低的振幅。同時(shí)也可通過臺(tái)面和地面振幅指標(biāo)的對(duì)比,反映系統(tǒng)的隔振性能。如平臺(tái)振幅小于地面振
幅,則平臺(tái)是隔振的,反之則是不隔振或振動(dòng)放大的。振幅指標(biāo)的檢測(cè),類同固有頻率檢測(cè)。

 

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