閱讀 | 訂閱
閱讀 | 訂閱
視覺檢測

內(nèi)聯(lián)工廠:實時熱力工藝信息如何改善AOI和X射線檢測

KIC公司曾睿洲 來源:激光制造商情2012-12-20 我要評論(0 )   

電子組裝行業(yè)在技術(shù)和創(chuàng)建更高效工廠方面不斷發(fā)展。最近,旨在改善每個獨立工藝以及在看似不相關(guān)工藝之間互動的新工具已經(jīng)問世。一個典型例子就是源自回流焊工藝的信息...

電子組裝行業(yè)在技術(shù)和創(chuàng)建更高效工廠方面不斷發(fā)展。最近,旨在改善每個獨立工藝以及在看似不相關(guān)工藝之間互動的新工具已經(jīng)問世。一個典型例子就是源自回流焊工藝的信息如何與現(xiàn)有的檢測設(shè)備協(xié)同構(gòu)建一個完整檢測流程。

因為在生產(chǎn)線的上下游面臨產(chǎn)生缺陷的風險,該行業(yè)在檢測設(shè)備方面已投入巨資。這些設(shè)備擅長發(fā)現(xiàn)部件丟失、極性問題、橋接等缺陷。但它們不能在微觀層面上檢測焊點,以確定這些焊點的質(zhì)量。下面是幾個示例:

AOI設(shè)備可以確認所有SOIC部件的每個引線是否出現(xiàn)焊點以及是否沒有橋接。但不能確定在任何焊點是否存在致使其脆弱的空洞。X射線機可以確認在BGA下面存在有所有焊錫球,但不能確定任何焊錫球是否為冷焊接。

AOI設(shè)備的另一個局限性是不能檢測隱藏在BGA和PoP等部件下面的焊點。對于這些類部件來說,X射線機可以提供幫助,原因是其可以透過部件查看下面焊點(雖然不能進入焊點本身的微結(jié)構(gòu))。應當指出的是,多數(shù)電子組裝工廠現(xiàn)在沒有通過內(nèi)聯(lián)設(shè)備進行100%的X射線檢測。相反,它們往往通過批量X射線設(shè)備對少量組裝PCB進行抽查,于是風險就是不能查找到所有缺陷。

迄今為止,電子組裝商只是接受了目前檢測流程的局限性??傮w說來,漏網(wǎng)的缺陷和潛在缺陷通常是可以控制的。(一個典型的潛在缺陷就是已通過所有工廠檢測和測試的不良焊接,但一旦終端客戶開始使用該產(chǎn)品,產(chǎn)品發(fā)生故障的風險就提高。)如今,新技術(shù)的發(fā)展促使電子組裝商不斷改善其檢測流程。一個趨勢就是電子設(shè)備的持續(xù)小型化,其中某些新部件在PCB采用超小的焊盤規(guī)格。當將焊膏印刷到這些小型焊盤上面時,最終沉積層具有很高的表面積與體積比。這面臨的風險是焊膏中的助焊劑在回流焊期間過早燃盡,進而導致氧化、縫隙及其他問題。最終結(jié)果是回流焊工藝因工藝窗口極其有限而變得更具挑戰(zhàn)性。事實上,整個溫度曲線可能需要隨著溫度斜升至峰值而需要改變?;亓骱笭t的誤差范圍縮小,預期焊接缺陷可能顯著增加(除非熱力工藝控制改善)。另一個相關(guān)趨勢是復雜電子設(shè)備(包括上述的小型化現(xiàn)象)變得更加普遍??梢韵胂胫悄苁謾C與普通手機、超級筆記本與平板電腦、筆記本電腦與臺式電腦、聯(lián)網(wǎng)智能3D電視與老式電視,例子舉不勝舉。

于是,焊接缺陷成為一個快速發(fā)展的問題,因為現(xiàn)有檢測設(shè)備的設(shè)計不能查找到所有缺陷,所以需要新的解決方案。值得慶幸的是,其設(shè)計旨在檢測熱力工藝的設(shè)備現(xiàn)已問世。以前,這些產(chǎn)品局限于現(xiàn)場抽查。另一問題是此類設(shè)備一直在“真空”運行——與AOI和X射線設(shè)備之間沒有信息共享或溝通。我指的是市場上的許多溫度曲線測試儀。這些裝置測定了PCB以及某些特定部件的溫度曲線。溫度曲線測試儀將測定的溫度曲線和部件容差進行對比,以確認熱力工藝是否正確?,F(xiàn)在,當對該人工作業(yè)自動化并使之呈連續(xù)性時,突然出現(xiàn)必須對熱力工藝“檢測”的任務。通過AOI和X射線將該工藝檢測與缺陷檢測結(jié)合在一起,最終構(gòu)成完整的檢測。下面描述了熱力工藝檢測(TPI)與AOI和X射線設(shè)備共享信息構(gòu)成一個完整檢測的情形。
•    在回流焊爐中正確處理并且在AOI和X射線設(shè)備中沒發(fā)現(xiàn)任何缺陷的PCB可以視為是無缺陷的。
•    未通過TPI檢測但通過AOI檢測的PCB被視作疑似問題電路板,并將送到批量X射線裝置。這使得X射線裝置可以進行比隨機抽樣更有效的抽檢。

結(jié)語
電子設(shè)備的小型化和產(chǎn)品的復雜化趨勢使熱力工藝更具挑戰(zhàn)性。通過共享TPI、AOI和X射線設(shè)備之間的信息,一個完整的檢測流程將查找到幾乎所有此類缺陷。此外,它亦使批量X射線設(shè)備的運行更高效。

未來考量
檢測在當今的電子組裝廠內(nèi)成為一項重要職能,但它仍然主要是一個標記缺陷裝置的篩選流程。最終目標是為了初次毫無瑕疵地生產(chǎn)出所有PCB而不斷改善相關(guān)工藝。為此,我們必須改善工藝控制。現(xiàn)在,自動化溫度曲線測試系統(tǒng)可以通過實時SPC圖和Cpk測定來執(zhí)行工藝控制。此類信息對初現(xiàn)偏差的工藝提供了預警,使得工藝工程師通??梢栽诔霈F(xiàn)任何瑕疵之前,將工藝重新調(diào)整回最有效位置。利用聯(lián)網(wǎng)TPI、AOI和X射線系統(tǒng)的實時信息與趨勢,將該信息再提供給工程師,或乃至將該信息直接輸入生產(chǎn)設(shè)備,將使顯著改善的工藝控制有可能朝著“每次均能一遍做好”的方向發(fā)展。

 

 

KIC公司曾睿洲

 

 

 

轉(zhuǎn)載請注明出處。

暫無關(guān)鍵詞
免責聲明

① 凡本網(wǎng)未注明其他出處的作品,版權(quán)均屬于激光制造網(wǎng),未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用。獲本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應在授權(quán)范圍內(nèi)使 用,并注明"來源:激光制造網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)責任。
② 凡本網(wǎng)注明其他來源的作品及圖片,均轉(zhuǎn)載自其它媒體,轉(zhuǎn)載目的在于傳遞更多信息,并不代表本媒贊同其觀點和對其真實性負責,版權(quán)歸原作者所有,如有侵權(quán)請聯(lián)系我們刪除。
③ 任何單位或個人認為本網(wǎng)內(nèi)容可能涉嫌侵犯其合法權(quán)益,請及時向本網(wǎng)提出書面權(quán)利通知,并提供身份證明、權(quán)屬證明、具體鏈接(URL)及詳細侵權(quán)情況證明。本網(wǎng)在收到上述法律文件后,將會依法盡快移除相關(guān)涉嫌侵權(quán)的內(nèi)容。

網(wǎng)友點評
0相關(guān)評論
精彩導讀